待测物遮挡部分或全部光束，或周D0900BA期性地遮挡光束，如图1.8所示。根据被遮挡光通量的大小就可确定待测物的大小或待测物的位移量。设待测物体宽度为6，物体遮挡光的位移量为出，则物体遮挡入射到光电探测器上的光面积的增量AS为

   AS：a2bAI

   式中，a为光学系统的横向放大倍数。光电探测器输出位移量的电信号为

   Us=EvAsp= Eya2bAip    (1.6)

   由式(1.6)可知，应用此种方式，可对物体的位移量和物体的尺寸进行检测，光电测微计和光电投影尺寸检测仪等均为此种方式。

   如果待测物扫过入射光束，光电探测器接收到的光通量就要发生有、无两种状态的变化，输出的电信号为脉冲形式，根据被遮挡光束的次数就可确定待测物体的个数，或者待测物体的运动速度等，相应地可用于产品计数、光控开关及防盗报警等。