带阻贴片晶体管检测
发布时间:2015/8/11 20:48:18 访问次数:388
检测带阻贴片晶体管的方法与检测中、小功率贴片晶体管基本相同。但由于带P89C669FA阻贴片晶体管内部设置了倔置电阻器Ri、Rz,且不同类型带阻贴片晶体管内部偏置电阻器连接方法存在较大差别,故在检测时应将偏置电阻器对测量数据的影响加以区分,以免造成误判。具体可按下述步骤进行。
(1)用万用表R×lOk挡测量BC之间集电结电阻值,应明显测出具有单向导电性能。且正、反向电阻值应有较大差异。集电结正、反向电阻值与内置电阻器阻值无关,利用万用表检测带阻贴片晶体管BC间集电结电阻值,如图10-36所示。
(2)由于带阻贴片晶体管有接两只电阻器、发射结并接电阻器和基极串接电阻器三种结构形式,进行检测时应注意区分内置电阻器对测量值的影响。利用万用表检测带阻贴片晶体管BE间发射结电阻值,如图10-37所示。
图10-37中,当用万用表欧姆挡检测BE间发射结正向电阻时,所测阻值为发射结正向电阻与晶体管内置电阻器串联、并联或串、并联的结果;当检测发射结反向电阻时,发射结截止,所测阻值为内置电阻器(R1+R2)电阻之和或内置电阻器Ri或R2阻值,且该阻值固定,不随电阻挡位的变换而改变。
检测带阻贴片晶体管的方法与检测中、小功率贴片晶体管基本相同。但由于带P89C669FA阻贴片晶体管内部设置了倔置电阻器Ri、Rz,且不同类型带阻贴片晶体管内部偏置电阻器连接方法存在较大差别,故在检测时应将偏置电阻器对测量数据的影响加以区分,以免造成误判。具体可按下述步骤进行。
(1)用万用表R×lOk挡测量BC之间集电结电阻值,应明显测出具有单向导电性能。且正、反向电阻值应有较大差异。集电结正、反向电阻值与内置电阻器阻值无关,利用万用表检测带阻贴片晶体管BC间集电结电阻值,如图10-36所示。
(2)由于带阻贴片晶体管有接两只电阻器、发射结并接电阻器和基极串接电阻器三种结构形式,进行检测时应注意区分内置电阻器对测量值的影响。利用万用表检测带阻贴片晶体管BE间发射结电阻值,如图10-37所示。
图10-37中,当用万用表欧姆挡检测BE间发射结正向电阻时,所测阻值为发射结正向电阻与晶体管内置电阻器串联、并联或串、并联的结果;当检测发射结反向电阻时,发射结截止,所测阻值为内置电阻器(R1+R2)电阻之和或内置电阻器Ri或R2阻值,且该阻值固定,不随电阻挡位的变换而改变。
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