Zn0压敏电阻器在高能冲击下， HEF4021BT易产生致命性失效。失效形式通常有针孑L击穿和“击裂”两种。针孑L击穿是一种热（电）击穿，它是由能级损耗引起的。电阻各部位电、物理牲能的不一致性是造成局部击穿或其他物理损伤的根本原因。而造成不均匀性的原因很多，除原材料不适当外，制造工艺起着决定性作用。制造工艺对晶粒的形状、大小、分布和气孔的多少、应力大小都带来影响。烧成温度和方法则是造成制品不均匀性的关键工序。

   晶粒间存在“显微压敏结”，这相当于一个电容器。在外电场作用下，由于传导损耗而产生介电常数损耗。当不均匀性大时，局部损耗增大，由损耗所产生的热量将大于向周围传递的热量，使局部温度迅速上升，从而导致局部热损坏，产生针孔击穿。

   击裂是一种应力诱导失效。当材料内部存在异常的大颗粒时，在大颗粒与小颗粒之间由于电致形变不同而产生应力。当这种应力或材料中残存的应力较大时，在应力集中处可能产生“微裂缝”。在外电场作用下，微裂缝和气孔尖端处产生局部放电，从而又产生电腐蚀、热腐蚀、化学腐蚀，使裂缝不断扩大，最终导致材料开裂。