实践证明， C052B104K5X5CA当温度升高以后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加速，而阿伦尼斯( Arrhenius)模型描述了由温度应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性，为加速寿命试验提供了理论依据。它假设热应力（温度）是造成元器件或材料的性能参数劣化（或退化）失效的主要原因。因为不少元器件和高分子材料表面态的变化及物理化学变化将导致性能参数超过规定的范围而引起失效。这些物理或化学反应的速率与温度密切相关。通常，随着温度的升高，反应的速度将加快，从而使元器件或材料的失效次数也增多。阿伦尼斯反应速率方程就是从实践中总结出来的经验公式．即式中，M(T)是参加变化的化学反应量，在这里指元器件失效数；R(t)为化学反应速率，这里指单位时间内失效数的改变量；Ao为常数；T为绝对零度；K为玻尔兹曼常数，等于0. 8617×10-4 (eV]℃)；E为引起某些参数失效或退化过程的激活能(eV)。   

   从量子力学可知，电子元器件或材料都位于一定势垒阱中，如图3. 16所示，元器件或材料的特性都处在一定势能V（导）下，对一定范围内的车认为是“好”的，对其他范围的导认为是“坏”的或失效的。因为，从好品过渡到坏品通常需要一个时间间隔，即好品在工作应力或环境应力下，使能量逐渐积累到能克服这o

势垒能量时，才导致由“好”变为“坏”，从而造成元器件或材料的失效。而这个势垒能量E就是产品由“好”变“坏”的最低激活能量，称为激活能，而这些能量的积累是由温度应力积累而引起的。不同失效机理所需要的反应激活能是不同的，而相同失效机理所需的激活能量是相等的，所以可以根据试验求出引起各种失效机理的反应激活能E。因为一般电子元器件大多数是由温度应力导致的失效，历以，常用此模型来描述加速寿命试验。