对于可靠性高的电子元器件进行长期寿命试验，无论是从成本还是从时间上来看，C0402KRX7R9BB221都是不合算的，甚至是不可能的。例如，人造地球卫星上所使用的电子元器件，要求失效率小于2.6×10-8/小时，如果要验证它，抽取1000个元件进行试验，若允许5个元件失效，则需试验22年。而对可靠性要求更高的元件，如果要求失效率小于l0-lo／小时，若按上面的试验方案，则需要进行大约5700年的寿命试验，显然这是不可能的。如果将寿命试验时间缩短为

1000小时，则试验元件数将分别增加到1.9×105和5×107个。这样大量的试验，从人力或物力上都是极难实现的，甚至是不可能实现的。因此，提出了加速寿命试验的方法。

   加速寿命试验的目的概括起来有以下几个。

   1)可以在较短时间内用较少的元器件估计高度可靠元器件的高可靠性水平，运用外推的方法能快速预测元器件在额定或实际使用条件下的可靠度或失效率；

   2)可以在较短时间内提供试验结果，检验工艺改进效果，或比较不同工艺的好坏，对元器件可靠性设计和可靠性增长的效果进行评价；

   3)在较短时间内暴露元器件的失效类型及形式，以使对失效机理进行研究，找出失效原因，从而可正确地确立失效判据和失效条件，为提高产品可靠性提供依据；

   4)比较可靠性筛选效果，确定最好的筛选方法，以便选择恰当的筛选方法，淘汰早期失效的产品；

   5)测定元器件某些极限的使用条件。

   但是，加速寿命试验不能完全代替正常使用条件下的寿命试验，它只是对寿命试验的一种近似估计。这是因为加速寿命试验目前还存在不少困难；其一是对试验方法及测试条件的保证有严格的要求；其二是为了对试验结果做出正确的解释，必须对产品的失效机理有较好的了解；其三是有多次的试验结果需要进行比较和分析。但是，由于加速试验在理论上有一定的根据，而且能在较短的时间内对产品的可靠性做出估计，因此该方法仍被广泛地采用。