在进行可靠性试验前，首先要确定失效判据。由于失效的判据不同，试验结果也会不同。为此必须做出合理的失效定义（指定失效判据）。

   失效一般分为两种，DL-3134-034即致命性失效和非致命性失效。致命性失效如断路、短路和严重丧失功能。非致命性失效如漂移失效（漏电流、互连线电阻增加、电源电压下降）。失效将取决于退化的程度。退化的程度不同，失效形式也会不同。把参数退化到什么程度判定为失效，即失效判据不同，可靠性试验的评价结果也会有明显的不同。所以，如何确定失效判据应该非常慎重。

   确定失效判据一般有两种考虑：一是从满足工作电流、工作条件的角度来确定试验对象的容限值，二是从严品可靠性可以控制的角度来确定其极限值。对于第一种情况，是使用方从对器件性能的需求来考虑的；对于第二种情况，则是生产方从器件的失效物理出发，根据其失效模式、失效机理来确定失效判据。实际上，这两种考虑应该兼顾。在我们常用的各种技术标准中，都兼顾到了这两方面的考虑。

   日本松下公司和日立公司针对数字集成电路和线性集成电路的失效判据如表3.4和表3.5所示。从表3.4和表3.5中可以看出，对于试验的参数都按照一定标准的容限值来评价。一般情况下，以初始值为标准值，选取比标准值的上限值高10%的值为上限判据，

选取比标准值的下限值低10%的值为下限判据。