光电转换和信号检测部分的要求是指光电检测器件及前置放大器的漂移和噪声等也要比较小。

   在实际的干涉系统中，AD515ATH影响干涉信号调制度的因素还很多，如相干涉系统中的漫射光、干涉波面畸变、干涉系统机械部件精度等都会影响到干涉信号质量。因此，对于应用和设计光相位调制检测系统，必须充分了解和考虑这些因素对干涉信号质量的影响。应用光的干涉效应进行测量的方法称为干涉测量技术。一般干涉测量系统主要由光源、干涉仪、光电显微镜瞄准部分以及信号接收和处理部分组成。根据测量对象及测量要求的不同而各有不同的组合，并由此形成了各种结构形式的干涉测量系统。

   在光相位调制检测系统中，被测参量一般是通过改变干涉仪中传输光的光程而引起对光的相位调制。由干涉仪解调出来的信息是一幅干涉图样，它以干涉条纹的变化反映被测参量的信息。干涉条纹是由于干涉场上光程差相同的场点轨迹形成。干涉条纹的形状、间隔、颜色及位置的变化，均与光程变化有关。因此，根据干涉条纹上述诸因素的变化可以进行长度、角度、平面度、折射率、气体或液体含量、光学元件面形、光学系统像差、光学材料内部缺陷等各种与光程有确定关系的几何量和物理量的测量。