光相位调制检测技术是被测参量的变化引起光波相位变化，通过检测光波相位变化而测量被测参量的技术。AD515AJH用光相位调制原理来实现对一些参量的检测往往具有更高的检测灵敏度和精度，被广泛应用于许多精密测试系统中。下面介绍基于光相位调制的检测系统的原理、设计与应用。

   光相位调制的调制和解调

   光相位的调制是各种被测参量（如位移、温度、应力应变、压力、介质密度，甚至电场、磁场等）通过直接或间接对光传播途径上光程的影响，从而引起光相位的变化。光相位的解调是利用光的干涉效应（各种干涉仪）把光波间的相对相位关系转换为光强度的空间或时间的变化，再通过光电检测器件检测光强变化，实现对光相位变化的检测。

    获得高质量的干涉信号是保证检测精度与检测系统可靠工作的必要条件。干涉信号的调制度是反映干涉信号质量的重要指标，干涉信号的调制度表示为干涉信号的最大光强；/mi。为干涉信号的最小光强。

   调制度肘的值在0~1之间变化，当M=l时，获得的干涉条纹信号质量最好；当M=O时，干涉条纹信号的可见度为零，此时无法得到干涉倍号。

   影响干涉信号调制度的重要因素有：①光源的相干性：②干涉光束相干性要求；③光电转换和信号检测部分。