DAC7551-Q1
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2011年6月
12位，超低干扰，电压输出
数位类比转换器
检查样品：
DAC7551-Q1
1
特点
通过汽车应用认证
相对精度（ INL ） ：
±0.35LSB
超低毛刺能量： 0.1nV -S
低功耗工作： 100μA在2.7V
上电复位至零标度
电源： 2.7V至5.5V单电源供电
省电： 0.05μA在2.7V
12位线性度和单调性
轨至轨电压输出
建立时间： 5微秒（最大）
与SPI兼容的串行接口
施密特触发器输入：高达50MHz
菊花链功能
异步硬件清除到零刻度
规定温度范围：
–40°C
至+ 105°C
小， 2 ×3毫米， 12引脚SON封装
描述
该DAC7551 - Q1为单通道，电压输出
数字 - 模拟转换器（ DAC），具有卓越的
线性和单调性，以及专有的
建筑，最大限度地减少干扰能量。该
低功耗DAC7551 -Q1从一个单一的2.7V工作
至5.5V电源供电。该DAC7551 -Q1输出放大器
可驱动2kΩ的， 200pF的负载轨到轨为5μs
稳定时间;输出范围通过外部设置
基准电压源。
3线串行接口，工作时钟速率最高达
至50MHz ，并与SPI ， QSPI 兼容，
MICROWIRE和DSP接口标准。零件
掺入的上电复位电路，以确保
DAC输出上电至0V并保持，直到
一个有效的写周期设备发生。部分
包含掉电功能，可降低
该装置的电流消耗降至2μA以下。
小尺寸和低功耗运行使
DAC7551 -Q1非常适合电池供电的，
便携式应用。的功率消耗是
一般0.5MW 5V和0.23mW在3V ，并减少了
1μW在掉电模式。
该DAC7551 -Q1可在一个12引脚SON
指定封装，
–40°C
至+ 105°C 。
234
应用
便携式，电池供电仪表
数字增益与失调调节
可编程电压及电流源
可编程衰减器
工业过程控制
功能框图
V
DD
IOV
DD
V
REF
H
SCLK
_
SYNC
SDIN
POWER- ON
RESET
掉电
逻辑
接口
逻辑
移
注册
DAC
注册
STRING
DAC
+
V
FB
V
OUT
SDO CLR
GND
V
REF
L
1
2
3
4
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SPI ， QSPI是Motorola，Inc.的商标。
MICROWIRE是美国国家半导体公司的商标..
所有其他商标均为其各自所有者的财产。
版权
2011年，德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
订购信息
(1)
产品
DAC7551-Q1
(1)
PACKAGE -LEAD
SON-12
包
代号
DRN
特定网络版
温度
范围
–40°C
至+ 105°C
包
记号
RAN
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
www.ti.com 。
绝对最大额定值
(1)
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明） 。
单位
V
DD
， IOV
DD
到GND
数字输入电压至GND
V
OUT
到GND
工作温度范围
存储温度范围
结温（T
J
MAX ）
功耗（ DRN ）
热阻抗，
θ
JA
热阻抗，
θ
JC
(1)
–0.3V
至6V
–0.3V
到V
DD
+ 0.3V
–0.3V
到V
DD
+ 0.3V
–40°C
至+ 105°C
–65°C
至+ 150°C
+150°C
(T
J
最大
–
T
A
)/θ
JA
79°C/W
48.57°C/W
超出上述上市
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。暴露在绝对
最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。
2
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电气特性
所有规格的
–40°C
至+ 105 ° C，V
DD
= 2.7V至5.5V ，V
REF
H = V
DD
, V
REF
L = GND ，R
L
=为2kΩ到GND ，和C
L
= 200pF的到
GND（除非另有说明） 。
参数
静态性能
决议
相对精度
微分非线性
偏移误差
零刻度误差
增益误差
满量程误差
零刻度误差漂移
增益温度COEF网络cient
PSRR
输出特性
(2)
输出电压范围
输出电压建立时间
压摆率
容性负载稳定性
数模转换毛刺脉冲
数字馈通
输出噪声密度
总谐波失真
直流输出阻抗
短路电流
开机时间
参考输入
V
REF
H输入范围
V
REF
L输入范围
参考输入阻抗
参考电流
逻辑输入
(2)
输入电流
V
IN_L
，输入低电压
V
IN_H
，输入高电压
引脚电容
(1)
(2)
IOV
DD
≥
2.7V
IOV
DD
≥
2.7V
0.7 IOV
DD
3
±1
0.3 IOV
DD
μA
V
V
pF
V
REF
= V
DD
= 5V
V
REF
= V
DD
= 3V
V
REF
L
＆ LT ;
V
REF
H
0
0
GND
100
50
30
100
60
V
DD
V
DD
V
V
k
μA
V
DD
= 5V
V
DD
= 3V
走出掉电模式下，V
DD
= 5V
走出掉电模式下，V
DD
= 3V
10kHz的偏移频率
f
OUT
= 1kHz时，女
S
= 1MSPS ， BW = 20kHz的
R
L
=
∞
R
L
= 2k
1 LSB变化主进位
R
L
=为2kΩ ， 0pF
＆ LT ;
C
L
＆ LT ;
200pF
1.8
470
1000
0.1
0.1
120
–85
1
50
20
15
15
2× V
REF
L
V
REF
H
5
V
μs
V / μs的
pF
nV-s表示
nV-s表示
纳伏/赫兹÷
dB
mA
μs
V
DD
= 5V
7
3
0.75
载入DAC寄存器全部为零
指定的单调设计
(1)
测试条件
民
12
典型值
最大
单位
位
±0.35
±0.08
±1
±0.5
±12
±12
±0.15
±0.5
最低位
最低位
mV
mV
％ FSR
％ FSR
μV/°C
PPM的
FSR /°C的
mV / V的
线性测试使用30 4065减少代码范围;输出卸载。
通过设计和特性参数;未经生产测试。对于1.8V
＆ LT ;
IOV
DD
＆ LT ;
2.7V时，建议使V
IH
≥
0.8 IOV
DD
和
V
IL
≤
0.2 IOV
DD
.
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引脚配置
V
DD
V
REF
H
V
REF
L
V
FB
V
OUT
GND
1
2
3
DAC7751
4
5
6
热
PAD
(1)
9
8
7
SCLK
SYNC
CLR
12
11
10
IOV
DD
SDO
SDIN
引脚说明
针
号
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
(1)
名字
V
DD
V
REF
H
V
REF
L
V
FB
V
OUT
GND
CLR
SYNC
SCLK
SDIN
SDO
IOV
DD
(1)
描述
模拟电源电压输入
正参考电压输入
负基准电压输入
DAC放大器检测输入。
来自DAC的模拟输出电压
地面上。
异步输入清除DAC寄存器。当CLR为低时，DAC寄存器被设置到000h和输出
电压为0V。
帧同步输入。在SYNC脉冲的下降沿指示串行数据帧的开始移出
到DAC7551 -Q1 。
串行时钟输入
串行数据输入
串行数据输出
I / O电源电压输入
散热焊盘应连接到GND 。
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