IPM和IDM测试

   该产品IPM和IDM各包含512K位SRAM,采用动态模式进行测试,测试向量为“棋盘格”图案,测试流程如图3-26所示。辐照开始后,DSP测试代码用“棋盘格”图案完全填充IPM或IDM,然后将IPM或IDM的全部数据循环输出。GAL22V10D-25LPN测试系统实时监测输出结果的正确性和循环次数,并在测试软件中存储并实时显示单粒子翻转(SEU)和单粒子功能中断(sEFI)信息。当发生SEu时,测试系统记录sEU,不中断数据输出;当发生SEFI时,则重启DsP测试代码。SEU判据:输出数据与预期结果不一致;假设正常情况下将IPM或IDM的全部数据输出1次所需时间为r,如果在2r时间内未能完成1次全部数据输出,则判定为sEFI。