位置:51电子网 » 技术资料 » 无线通信

动态测试模式

发布时间:2019/5/15 20:26:33 访问次数:155

   动态测试模式

   在动态测试模式下,单粒子辐照试验过程中,器件将周期性地进行图形的写入、等待、读出比较的操作过程,错误在读过程中被发现,在写过程中被纠正。


GAL20V8B-25LPNI


   sRAM器件预先写入的测试图形可全“0”、全“1”,以及“55”“AA”等,可以是单一的测试图形,也可以是多种测试图形。

    存储类器件除SRAM夕卜,还有EEPROM、PRoM、Flash等。这些存储类器件的单粒子翻转的测试方法可以参照“次M的测试方法进行。

相关技术资料
05-15动态测试模式

热门点击

推荐技术资料

机器小人车
建余爱好者制作的机器入从驱动结构上大致可以分为... [详细]