ESD电流的上升时间小于l lls,放电电流通过时,会导致导体上产生电压脉冲(σ=L・dJ/dr)。 LM4040BIM3-2.5-T这些导体可能是电源、地或信号线:这些电压脉冲将进人与这些网络相连的每一个元器件。同时,放电电弧及流过导体的放电电流会产生一个频率范围为l MHz~1GHz的强磁场,并感性耦合到邻近的每一个布线环路。据测试,在离EsD电弧1CXl mn1远的地方将产生高达数十A/m的磁场:电弧辐射的电磁场出会耦合到长的信号线上。这些信号线起到了接收 置对该产品ESD抗扰度的影响。

   首先用一根飞线连接代替PCB中“pr【,re∞t”信号,并远离PCB边缘,如图6.15所示,在这种情况下进行测试,没有发现任何异常现象,测试通过。 图615再如图6,16所示,用一根靠近行测试,该产品出现复位现象。

   远离PCB边缘的飞线代替PCB线PCB边缘的飞线代替原来PCB中的“pr。reset”线再进 图616 靠近PCB边缘的飞线代替PCB线

在图6.16所示的情况下,其他部分不动,只调整网口旁的布线,即避开以太网接口电路的地平面挖空区域,如图6.17所示,再重新进行ESD测试,测试中也没有发现任何异常现象,测试通过,说明靠近以太网接口电路部分的“p⒛re⒃t”信号布线是该ESD问题的主要影响因素。