扫描测试是在两个阶段中完成的,第一个OB2269CCPA阶段是测试扫描暂存器,通过设置SE=1使电路设置成扫描 模式,这使所有的触发器在SI(sca n in)与Q(scan out)之问串成了一组移位暂存器.或称为扫描琏:一个(触发器曾、数-1)的序列信号加人到暂存器SI序列中,经由时钟信号C控制J宇列信号破移位到可以l见察的ScanOut输;冉将Scan_Out输出勹输入序列做比较:如此一来.测试了移位暂存器是否可以正确操作:测试的第二阶段是对组合逻辑电路的固定故障做测试,一个扫描测试输人矢童包含两个部分,即组合电路的原始输入部分和移位暂存器的状态变量部分。每一个扫描测试输出矢董也同样包含两个部分,即组合电路的原始输出部分和移位暂存器的输出部分.扫描测试在每一个系统时钟周期输人一个扫描测试矢量,也就是使用ATPC)Hi成的测试矢蚩・作为组合电路的原始输人矢量以及作为移位暂存器设定初始值的矢量。当扫描测试矢量输人之后,可以读出原始输出矢量和移位暂存器的输出矢量,与期望值作比较。如果不符合,所有的影响原始输出的故障此时都可以通过判断触发器状态变量而被检测出来。