静电放电时出现异常现象的放电点在射频接口周边的金属外壳上。关于静EDD51321EBH-5BTS-F电放电的实质及千扰原理已经在其他案例中有较详细的描述,这里不再描述,但是搞清楚静电放电电流的流向,对分析此问题将有很大的帮助。曲于该产品的接地点在电源输入线附近,因此静电放电测试时,静电放电干扰电流的流向将如图2.⒇所示。

   可见,静电干扰电流的放电路径主要有两条:一条通过外壳流向大地(大部分电流);另一条通过内部PCB流向大地(小部分)。静电放电电流属于高频信号,集肤效应及金属外壳的低阻抗特性(测试中检查了金属外壳的搭接性能,确认良好,如果搭接不好也将引起额外的干扰,如案例“静电放电干扰是如何引起的”中描述的那样),使得大部分的静电放电干扰电流会从金属外壳流入大地。既然大部分的静电放电干扰电流已经通过金属外壳流入大地,那为什么还会出现ADC的异常工作呢?ADC电路的设计肯定存在较薄弱的环节。检查电路发现,ADC存在模拟地和数字地,电路设计时为了使数字电路部分的干扰不影响模拟电路部分,在数字地和模拟地之间跨接了磁珠进行隔离。ADC原理框图和ADC的PCB布局示意图,如图2.91和图2.92所示.