在我们实际使用的集成电路中,还有许多是将模拟信号作为输入,经传感器转变为数字信号进行处理或直接输出,或者以数字信号输人,变化为模拟信号输出。VES101M1CTR-0605L这样的数模混合系统的测试,涉及模拟信号测试与数字信号测试两个方面,频率覆盖了从几Hz到上GHz的范围.至少在对测试设备的要求上就是个不小的问题。

    对于数模混合电路的测试,通常没有什么简单的方法,只有在电路设计中将其分为可以单独测试的模拟、数字模块,在测试时,对模拟部分与数字部分分别进行测试。据统计,混合电路中模拟部分所占的芯片面积通常为⒛%~25%,但所需的测试时间和测试成本,却与数字部分相当,甚至更高。

    对于数字、模拟部分有效隔开的混合电路,测试的步骤通常依照以下的顺序进行:模拟测试→数字测试一整体功能测试。需要注意的是,即使模拟测试与数字测试的结果完全合格,也并不表示电路没有故障,因为两者间的连接部分出现一点错误,同样会导致电路失效,所以无论整体功能与模块化的测试结果间有怎样确定的关系,在测试项目中,保留一些整体功能测试都是必需的。

   混合电路测试不同于单纯的模拟或数字测试,它的测试质量不仅取决于二者各自的精度,也与它们之间的相互影响有关,比如模拟部分与数字部分必须有相互独立的接地系统。另外,由于模拟部分的存在,测试负载板的性能也格外重要,其噪声特性应比测试要求低12~18dB。除此之外,数字信号线应为50Ω屏蔽线,低频模拟信号需要屏蔽双绞线,高频信号线间应避免相互交叉,直流电源要接电容等。在这些细节上的疏忽,可能给测试结果带来很大的干扰,甚至错误。

    对混合电路的测试,特别是生产测试中,不可能分别用不同的仪器设备进行模拟与数字测试,这在测试时间上是不允许的,因而测试设备必须同时具各模拟测试与数字测试的能力。增加了模拟测试功能的通用测试仪与单纯的数字测试系统相比,价格又高了很多。测试成本问题,以及随着器件尺寸缩小产生的测试能力限制,都使得内建自测试技术受到越来越多的关注。