单个E叫脉冲的能量较小,不会对设备造成故障。但由于Er是持续一段时间的单极性脉冲串, R1170H151B-T1-F它对设备线路结电容充电,经过累积,最后达到并超过IC芯片的抗扰度电平,将引起数字系统错位、系统复位、内存错误及死机等现象。因此,线路出错会有个时间累计过程,而且会有一定偶然性和随机性。而且很难判断究竟是分别施加脉冲还是一起施加脉冲设各更容易失效,设各对正向脉冲和负向脉冲哪个更为敏感也很难下结论。测试结果与设备线缆布置、设备运行状态、脉冲参数、脉冲施加的组合等都有极大的相关性。而不能简单地认为,在EFT抗扰度试验中受测设备有一个门槛电平,干扰低于这个电平,设备工作正常;干扰高于这个电平,设备就失效。正是这种偶然性和随机性给E「r对策的选择方式和对策部位的选择增加了难度。同时,大多数电路为了抵抗瞬态干扰,在输入端安装了积分电路,这种电路对单个脉冲具有很好的抑制作用,但是对于一串脉冲则不能有效抑制。

   GB/T17626.4新标准在单组脉冲群注入受试设备的脉冲总量没变(仍为乃个)的情况下,将脉冲重复频率从5kHz提高到100kHz,单位时间内的脉冲密集程度大大增加了。单位时间内的脉冲个数越多,结电容的电荷积累越快,也越容易达到线路出错的阈限。因此,新的标准把脉冲重复频率提高,其本质上也是将试验的严格程度提高。这样能通过旧标准E田测试的产品,在按照新标准进行测试时耒必能通过。