RS测试时干扰通过空间辐射来施加到EUT上,施加的干扰是80MHz~2GHz的射频连续波信号,干扰场强为1~30Ⅴ/m,调制方式为1kHz正弦波sO%的幅度调制。PESD12VL1BA这些干扰进人EUT内部电路,会导致模拟信号的输人、输出与预期效果偏离,造成数字电路的控制失效或误动作,甚至造成微处理电路的程序运行出错、存储和读取数据错误。

   射频干扰(R冂)传输途径

   如图17-3所示,RΠ可经过许多途径进人EUT。

   图17-3 Rs测试失败原因分析示意图

   首先,RFI会通过EUT外壳直接进人EUT内部,被EUT内部电路元器件、PCB布线和内部传输电缆所接收,从而对电路形成干扰。若EUT为非金属外壳,空间辐射干扰可以毫无阻拦地进人EUT内部,此时若出现RS测试失败,应首先考虑外壳原因。