在使用UsB设备时通常都采用热插拔,此时存在静电放电的隐患,因此对所有USB端口实施ESD防护是极其重要且必需的。现代计算机大多采用低功率逻辑芯片,OPA348AIDCKT由于MOS的电介质击穿和双极反向结电流的限制,使这些逻辑芯片对ESD非常敏感。大多数USB集成电路都是以CMOS工艺为基础来设计和制造的,这导致它们对ESD造成的损害也很敏感,另外,USB端口是热插拔系统,极易受到由用户或空气放电造成的ESD影响。

   用户在插拔任何USB外设时都可能产生ESD。在距离导电面的几英寸的位置可产生空气放电。静电可以损害USB接口,造成USB集成电故障,最糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。这些损害和故障造成电子设备的“硬性损伤”或元器件损坏。对于硬性损伤,可以很容易地更换失效的元器件并使系统重新纳入正轨,但是,假如发生了“软性损伤” (CMOS元器件性能降级),此时系统会不断产生不规则的数据位,要花费大量时间和成本来进行故障排查,并且依靠重复测试也很难发现系统异常,因此针对USB元器件的ESD防护已经迫在眉睫。传统的保护串行端口的方法在USB应用中是过时的或无效的,针对USB应用的半导体器件必须具各以下特性。