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详细介绍 |
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| 【产品名称】 |
TO封装集成电路老化测试插座 |
| 【产品类别】 |
接插件/连接器
==>IC插座
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| 【市
场 价】 |
0 |
| 【本
站 价】 |
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| 【产品用途】 |
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| 【产品规格】 |
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| 【生产厂家】 |
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| 【产品说明】 |
TO封装集成电路老化测试插座
该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。
产品型号及规格；
TO-4、8、10、12
主要技术指标；
环境温度；-20℃—+255℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg
磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
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| 【更新时间】 |
2008-8-27 16:39:40 |
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